Wil je Reliability Yield and Stress Burn-in kopen? · Nog zeker 1 beschikbaar
€163.99 Laagst beschikbare prijs
Het sentiment: Onbekend · Zelf beoordelen
Helaas, het is nog niet bekend wat gebruikers voelen. Het is ook nog onbekend wat de ervaringen zijn op online media. Daarom is het hier nog onbekend hoe Reliability Yield and Stress Burn-in ervaren wordt.
Wat zegt dit?Op shoptiment gebruiken we het woord sentiment. Dit is wat online media en onze bezoekers van een product vinden. Het wordt automatisch berekend aan de hand van de recencies van bezoekers en het sentiment gevonden in online bronnen. Verder op de bladzijde kan je meer details vinden!
Meestal vind je dit product het onder Boek in Boeken.
Bindwijze
Uitgebreide Review Reliability Yield and Stress Burn-in
Het sentiment: Onbekend
In dit gedeelte kan je zien hoe het product ervaren wordt. Dit komt tot stand door de reacties van gebruikers te combineren met de ervaringen en recencies gevonden op online media zoals Youtube.
Gebruikers: Onbekend
Online: Onbekend
Het online sentiment zoals gevonden door ons platform voor Reliability Yield and Stress Burn-in is Onbekend.
Google zoekresultaten lijken in het algemeen Onbekend voor Reliability Yield and Stress Burn-in. Zoeken naar beoordelingen op Google ›
In het algemeen zijn tweets Onbekend voor Reliability Yield and Stress Burn-in. Zoeken naar beoordelingen op Twitter ›
Youtube
Youtube beschrijvingen zijn in het algemeen Onbekend voor Reliability Yield and Stress Burn-in. Zoeken naar beoordelingen op Youtube ›
De teksten, ervaringen en beschrijvingen gevonden in de bovenstaande online media worden bekeken door kunstmatige intelligentie. Door deze uitslag te combineren ontstaat het online sentiment.
Het Sentiment: Onbekend
Nog niemand heeft zijn gevoelens achtergelaten. Het is dus nog onbekend wat gebruikers ervaren. We kunnen weinig online vinden voor dit product! Het is dus helaas onbekend wat het online sentiment is. Er is dus nog weinig bekend over dit product op dit platform, zowel in gebruikerservaringen als in online recensies gevonden door dit platform. Daarom is het sentiment voor dit product neutraal. Heb je ervaring met dit product? Laat dan je gevoelens achter.
De ervaringen van gebruikers samen met het sentiment gevonden online vormt het uiteindelijke sentiment!
Gerelateerde Videos
De onderstaande videos zijn in veel gevallen gerelateerd aan het product. In sommige gevallen, en bij onbekende producten, kunnen mogelijk afwijkende videos worden getoond.
Geen video beoordelingen gevonden.
Eigenschappen Reliability Yield and Stress Burn-in
Producteigenschappen
Inhoud | |
---|---|
Aantal pagina's | 394 |
Bindwijze | Paperback |
Illustraties | Nee |
Oorspronkelijke releasedatum | 14 maart 2014 |
Taal | en |
Betrokkenen | |
Co Auteur | Taeho Kim |
Hoofdauteur | Way Kuo |
Hoofduitgeverij | Springer-Verlag New York Inc. |
Tweede Auteur | Wei-Ting Kary Chien |
Overige kenmerken | |
Editie | Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 |
Extra groot lettertype | Nee |
Product breedte | 155 mm |
Product lengte | 235 mm |
Studieboek | Nee |
Verpakking breedte | 155 mm |
Verpakking hoogte | 235 mm |
Verpakking lengte | 235 mm |
Verpakkingsgewicht | 646 g |
EAN | |
EAN | 9781461375968 |
Productbeschrijving
The international market is very competitive for high-tech manufacturers to day. Achieving competitive quality and reliability for products requires leader ship from the top, good management practices, effective and efficient operation and maintenance systems, and use of appropriate up-to-date engineering de sign tools and methods. Furthermore, manufacturing yield and reliability are interrelated. Manufacturing yield depends on the number of defects found dur ing both the manufacturing process and the warranty period, which in turn determines the reliability. the production of microelectronics has evolved into Since the early 1970's, one of the world's largest manufacturing industries. As a result, an important agenda is the study of reliability issues in fabricating microelectronic products and consequently the systems that employ these products, particularly, the new generation of microelectronics. Such an agenda should include: * the economic impact of employing the microelectronics fabricated by in dustry, * a study of the relationship between reliability and yield, * the progression toward miniaturization and higher reliability, and * the correctness and complexity of new system designs, which include a very significant portion of software.